廈門某單位一臺(tái)FEI場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡安裝完成

    近期，我司供貨給廈門某事業(yè)單位一臺(tái)美國FEI超高分辨熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡NovaNanoSEM450及一臺(tái)英國牛津X射線能譜儀X-Max N50，并由廠家工程師完成安裝、調(diào)試、培訓(xùn)，為期3周。

    掃描電鏡與能譜儀配合，既能滿足各種成像、分析和樣品制備需求，又能根據(jù)射線粒子的能量，來分析物質(zhì)的成份、含量，常見于研究實(shí)驗(yàn)室、半導(dǎo)體和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)實(shí)驗(yàn)室和制造工廠、生物和生命科學(xué)實(shí)驗(yàn)室。



 

掃描電鏡全貌